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射頻導納物位計測量原理
更新時間:2019-09-30   點擊次數:1508次

射頻(pin)(pin)導(dao)(dao)(dao)納是(shi)一種從電(dian)(dian)容式發(fa)展起來的(de)(de)、防掛(gua)料(liao)、更(geng)可靠、更(geng)準確、適用性(xing)更(geng)廣的(de)(de)新型物位(wei)控制(zhi)技(ji)術,是(shi)電(dian)(dian)容式物位(wei)技(ji)術的(de)(de)升(sheng)級。所謂射頻(pin)(pin)導(dao)(dao)(dao)納,導(dao)(dao)(dao)納的(de)(de)含(han)義(yi)為(wei)電(dian)(dian)學中阻抗的(de)(de)倒(dao)數,它由電(dian)(dian)阻性(xing)成(cheng)(cheng)(cheng)分(fen)(fen)、電(dian)(dian)容性(xing)成(cheng)(cheng)(cheng)分(fen)(fen)、感(gan)性(xing)成(cheng)(cheng)(cheng)分(fen)(fen)綜合而成(cheng)(cheng)(cheng),而射頻(pin)(pin)即高(gao)頻(pin)(pin)無線電(dian)(dian)波譜,所以射頻(pin)(pin)導(dao)(dao)(dao)納可以理解為(wei)用高(gao)頻(pin)(pin)無線電(dian)(dian)波測(ce)量導(dao)(dao)(dao)納。儀表工作時,儀表的(de)(de)傳感(gan)器與灌(guan)壁及被(bei)測(ce)介(jie)質形成(cheng)(cheng)(cheng)導(dao)(dao)(dao)納值(zhi),物位(wei)變(bian)(bian)化時,導(dao)(dao)(dao)納值(zhi)相(xiang)應變(bian)(bian)化,電(dian)(dian)路單元將測(ce)量導(dao)(dao)(dao)納值(zhi)轉換成(cheng)(cheng)(cheng)物位(wei)信號輸出(chu),實現物位(wei)測(ce)量。

對(dui)于連續測量,射頻導納技(ji)術與傳(chuan)統電(dian)容技(ji)術的(de)(de)區別除(chu)了上述講(jiang)過的(de)(de)以外(wai),還增加了兩個很重要的(de)(de)電(dian)路,這是根(gen)據導電(dian)掛(gua)料實踐中的(de)(de)一個很重要的(de)(de)發(fa)現改進(jin)而(er)成的(de)(de)。上述技(ji)術在(zai)這時同樣(yang)解決了連接電(dian)纜問題(ti),也解決了垂直安裝的(de)(de)傳(chuan)感器(qi)根(gen)部掛(gua)料問題(ti)。所增加的(de)(de)兩個電(dian)路是振蕩(dang)器(qi)緩沖(chong)器(qi)和交流變換斬波(bo)器(qi)驅動器(qi)。

對一個(ge)強(qiang)導(dao)電(dian)性(xing)被測(ce)介質(zhi)的(de)容(rong)器(qi),由于被測(ce)介質(zhi)是導(dao)電(dian)的(de),接地點可以被認為在探(tan)(tan)頭(tou)絕(jue)緣層(ceng)的(de)表(biao)面,對變送器(qi)來說僅表(biao)現為一個(ge)純電(dian)容(rong)。隨著(zhu)容(rong)器(qi)排料(liao),探(tan)(tan)桿上(shang)產生掛料(liao),而掛料(liao)是具(ju)有阻抗的(de)。這(zhe)樣以前的(de)純電(dian)容(rong)現在變成(cheng)了由電(dian)容(rong)和電(dian)阻組成(cheng)的(de)復(fu)阻抗,從而引起(qi)兩(liang)個(ge)問題。

個問(wen)題(ti)是液位本(ben)身對探(tan)(tan)頭(tou)相當于(yu)一(yi)個電(dian)容,它不(bu)消耗(hao)變送器(qi)的(de)能(neng)(neng)量(liang),(純電(dian)容不(bu)耗(hao)能(neng)(neng))。但掛料(liao)對探(tan)(tan)頭(tou)等效電(dian)路(lu)中含有電(dian)阻,則掛料(liao)的(de)阻抗會消耗(hao)能(neng)(neng)量(liang),從而(er)將振蕩(dang)器(qi)電(dian)壓拉下來,導致橋路(lu)輸出改變,產生測量(liang)誤差。我們在(zai)振蕩(dang)器(qi)與電(dian)橋之間增加了(le)一(yi)個緩沖放大器(qi),使(shi)消耗(hao)的(de)能(neng)(neng)量(liang)得到補充,因而(er)不(bu)會降低加在(zai)探(tan)(tan)頭(tou)的(de)振蕩(dang)電(dian)壓。

第二個(ge)問(wen)題(ti)是(shi)(shi)對于(yu)導電(dian)(dian)被(bei)測(ce)(ce)(ce)介質,探頭絕緣層表面的(de)(de)(de)接地(di)點覆(fu)蓋了整個(ge)被(bei)測(ce)(ce)(ce)介質及掛(gua)料(liao)(liao)區,使有效測(ce)(ce)(ce)量(liang)電(dian)(dian)容(rong)(rong)擴展(zhan)到(dao)掛(gua)料(liao)(liao)的(de)(de)(de)頂端。這樣便產(chan)生(sheng)(sheng)掛(gua)料(liao)(liao)誤差,且導電(dian)(dian)性越強(qiang)誤差越大。但任何被(bei)測(ce)(ce)(ce)介質都不是(shi)(shi)*導電(dian)(dian)的(de)(de)(de)。從電(dian)(dian)學(xue)角度來看,掛(gua)料(liao)(liao)層相(xiang)當(dang)于(yu)一(yi)個(ge)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu),傳(chuan)感(gan)元(yuan)件被(bei)掛(gua)料(liao)(liao)覆(fu)蓋的(de)(de)(de)部分相(xiang)當(dang)于(yu)一(yi)條由無數個(ge)無窮小的(de)(de)(de)電(dian)(dian)容(rong)(rong)和電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)元(yuan)件組成的(de)(de)(de)傳(chuan)輸(shu)線。根(gen)據數學(xue)理論,如(ru)果掛(gua)料(liao)(liao)足(zu)夠長(chang),則掛(gua)料(liao)(liao)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)容(rong)(rong)和電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)部分的(de)(de)(de)阻(zu)(zu)(zu)(zu)抗(kang)(kang)相(xiang)等(deng)(deng)。因此(ci)根(gen)據對掛(gua)料(liao)(liao)阻(zu)(zu)(zu)(zu)抗(kang)(kang)所產(chan)生(sheng)(sheng)的(de)(de)(de)誤差研究,又(you)增加一(yi)個(ge)交流驅動(dong)器電(dian)(dian)路(lu)。該電(dian)(dian)路(lu)與交流變換器或同步檢測(ce)(ce)(ce)器一(yi)起就可以分別測(ce)(ce)(ce)量(liang)電(dian)(dian)容(rong)(rong)和電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)。由于(yu)掛(gua)料(liao)(liao)的(de)(de)(de)阻(zu)(zu)(zu)(zu)抗(kang)(kang)和容(rong)(rong)抗(kang)(kang)相(xiang)等(deng)(deng),則測(ce)(ce)(ce)得(de)的(de)(de)(de)總(zong)電(dian)(dian)容(rong)(rong)相(xiang)當(dang)于(yu)C+C掛(gua)料(liao)(liao),再減去與C 掛(gua)料(liao)(liao)相(xiang)等(deng)(deng)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)R,就可以實(shi)(shi)際測(ce)(ce)(ce)量(liang)真實(shi)(shi)值,從而排除掛(gua)料(liao)(liao)的(de)(de)(de)影響。

即C測量=C+C掛料(liao)

C=C測量—C掛料

=C測量— R

這些(xie),多參量的測量,是必須得基礎(chu),交流(liu)鑒相采樣器是實現的手段。由于使用了上述三項技術,使得射頻導(dao)納(na)技術在(zai)現場應(ying)用中展現出非(fei)凡的生(sheng)命(ming)力。

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